keqi-ICT4040XP/4880XP/8080XP 电路板故障检测仪
keqi[ICT]系列检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。配合电脑使用，全部智能化。它利用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试，在线检测元器件好坏，迅速检测到电路板上故障元器件。简捷经济地修好各种类型电路板。
产品特点：
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◆先进的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好 |
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◆友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家 |
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◆无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修 |
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◆40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库 |
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◆40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能 |
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◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较 |
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◆与进口同类仪器比较，性价比更优，操作更方便 |
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◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试 |
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◆本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试 |
工作原理： 全功能ASA+ICT测试器
ASA（Analong signature Analysis）对元件每个管脚提供一个安全、低功率的扫描驱动电压信号，以便产生一个阻抗性图并在CRT上显示、且可存储，以备比对。所有测试都是在静态下（不加电）执行，所以不会伤害元件。它不仅能快速扫描并存储各类IC每个管脚V/I曲线图形，并且对各类分立元件如：电阻、电容等同样有效。
ICT（In circuit
Testing）它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较，测试时可在CRT上显示元件管脚连接状态，元件输入管脚的输入波形，同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形，以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏，也可测试分析，还可识别不明型号的IC。
[ICT]系列检测仪检测更加可靠准确
■ 功能测试软件设上拉电阻——方便集电极开路门的测试 ■ 功能测试外供电源稳定可靠——各种大、中、小型被测电路板皆可测试 ■ 功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降故障 ■ V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线 ■ V/I测试六个扫描频率——保证V/I曲线测试稳定可靠 ■ V/I测试三种测试电压幅度——确保各类器件的V/I测试集成电路在线功能测试
集成电路在线状态测试
本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测74系列、4000/45000逻辑IC、75系列接口IC各种存储器等千余种集成电路。
1、快速测试：直接显示测试结果，迅速确定可疑IC
2、分析测试：显示全部测试过程，测试激励。预期和实际响应，帮助分析故障原因
3、器件识别：查找无标记型号IC或同功能不同型号的IC。
集成电路在线状态测试
通过好坏板上相应IC的状态进行比较，找出有故障的IC。
1、状态学习：在线学习无故障IC的引脚关系，互连状态和测试的激励与响应，并存入数据库中
2、状态比较：同故障板上相应IC在线进行状态比较，根据两者差异判定IC好坏
3、状态显示：显示存入电脑库中的各IC的状态资料。
集成电路离线功能测试
离线测试IC功能好坏，自动识别未知型号的芯片
IC逻辑图查询
可查阅逻辑电路的逻辑功能图，管脚图及部分参数。
V/I曲线测试
通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定故障节点及故障IC
1、学习：在线学习无故障板上各节点的动态阻抗曲线（V/I曲线），并存入数据库中
2、曲线比较：同故障板上相应节点的动态阻抗曲线进行比较，根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC是否损坏
3、曲线显示：显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻抗图资料大
网络提取测试
使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采用了四种模式：
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1、探棒对探捧（“棒”—“棒”模式） |
3、测试夹对探捧（“夹”—“棒”模式） |
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2、探捧对测试夹（“棒”—“夹”模式） |
4、测试夹对测试夹（“夹”—“夹”模式） |
开发编译
TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可与相应子测试关联起来，随时用热键查看相应说明文件。
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1、TVED允许两种建立测试图形和方法
a）在TVED图形界面上直接建立 b）读入DCL语言的编译结果 |
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2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加以调整、修改。 |
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3、4种测试方式： a）完整执行一个测试 b）执行一个测试的一部分c）循环执行 d）单步运行 |
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型号 |
ICT4040XP |
ICT4880XP |
ICT8080XP |
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通道 |
ICTF: 40th
V/I曲线:40th |
ICTF: 40th
V/I曲线: 80th |
ICTF: 40×2th
V/I曲线: 80th |
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附件 |
双列直插夹具(7件)
表面贴双列直插夹具(7件)
单排式40脚夹具(3件) |
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价格 |
28,000 |
36,000 |
48,000 |
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产地 |
科奇仪器 |
补充：ICT4080P/8080P系统功能
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单个器件功能测试 |
IC状态测试 |
VI曲线分析 |
PROM操作 |
LSI在线分析 |
数据库整理 |
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器件端口特征曲线测试 |
系统维修日记 |
使用原测试软件 |
TVDE高级测试平台 |
全面网络测试 |
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对应于“单个器件功能测试”中的12个功能
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MSI在线功能测试 |
MSI离线功能测试 |
MSI在线型号识别 |
MSI离线型号识别 |
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MS在/离线循环测试 |
RAM离线完全测试 |
RAM在线快速测试 |
RAM在线完全测试 |
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PROM离线空检测 |
LSI离线功能测试 |
LSI在线功能测试 |
LSI离线测试库更新 |
对应于“PROM操作”中的11个子功能
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PROM离线完全学习 |
PROM离线完全比较 |
PROM在线快速显示 |
PROM离线学习库内容转换 |
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PROM在线快速学习 |
PROM在线快速比较 |
PROM在线完全学习 |
PROM在线完全学习库内容显示 |
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PROM在线完全比较 |
PROM离线学习库内容显示 |
PROM在线完全学习库内容转换 |
对应于“VI曲线分析”中的4大功能
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VI曲线学习 |
VI曲线比较 |
VI曲线显示 |
双板直接对比 |
对应于“IC状态测试”中的3大功能
对应于“LSI在线分析”中的3大功能
对应于主框架的17项功能按钮
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单个器件功能测试 |
IC状态测试 |
VI曲线分析 |
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PROM操作 |
LSI在线分析 |
模拟器件直接测试 |
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系统自检 |
数据库整理 |
建立系统维修日记文件 |
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原测试软件 |
TVDE高级测试平台 |
全面网络测试 |
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交叠方式排列窗口 |
非交叠方式排列窗口 |
分割指定窗口 |
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主界面 |
进入系统帮助 |
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对应于“模拟器件直接测试”菜单的3大功能
热键
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·Alt+L
进入“LSI在线分析”界面 |
·Alt+M
进入“数据库整理”界面 |
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·Alt+N
进入“全面网络测试”界面 |
·Alt+O
进入原测试软件界面 |
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·Alt+R
进入“PROM操作”界面 |
·Alt+S
进入“IC状态测试”界面 |
|
·Alt+T
进入“系统自检”界面 |
·Alt+V
进入“VI曲线分析”界面 |
|
·F1
获取帮助 |
·Alt+X
退出本系统 |
系统运行环境
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操作系统 ： Win 9X 或 Windows
XP |
内 存 ：
≥16M |
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C P U ： PII
以上 |
硬盘空间 ： ≥25M |
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显 示 ：
1024×768，24位真彩色 |
鼠 标 ：
必备，可为任意型号 |
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电 源 ：
220V/50Hz |
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产品名称：